Simonyi Konferencia 2012 - Méréstechnikai kihívások a való életben

Készítették

Selejtes iPhone?! Ugye milyen szokatlan?

A modern elektronikai gyártás elengedhetetlen része a nagy lefedettséget nyújtó, mégis gyors és költséghatékony funkcionális tesztelés. Az egyes tesztek alapjául az egyetemen is megtanult egyszerű analóg és digitális mérések szolgálnak, azonban a tesztmérnök feladata, hogy ezekből rugalmas, strapabíró, és megbízható tesztrendszert faragjon. 

A National Instruments előadásán bemutatja egy modern funkcionális tesztrendszer felépítését, majd való életből vett példákon szemlélteti, hogy milyen problémákkal és kompromisszumokkal kénytelen szembesülni a tervezőmérnök, ha meg akar felelni a tesztrendszerével szemben támasztott összes elvárásnak.

Hogyan építsünk rugalmas tesztrendszert, ami képes méréseket végezni egyszerre több terméken is?

Mi a különbség a diszkrét mérések definiálása és a komplett „rendszertervezés” között?

Milyen parazitahatásokkal szembesülünk, ha nem megfelelően választjuk ki a mérési rendszer struktúráját és építőelemeit?

Milyen formában fognak jelentkezni a mérési hibák, és hogyan lehet kiküszöbölni ezeket, vagy legalább csökkenteni a hatásukat?

A fenti kérdések körültekintő megválaszolásán kívül sok más érdekességről kaphatsz képet a modern elektronikai gyártás világából Sánta Zsolt (teszt technikai vezető) és Póser István (tesztmérnök) előadásában. 

http://konferencia.simonyi.bme.hu

Letöltés

Normál minőség
Az esemény dátuma: 2012. április 17. kedd